回路電阻測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中可能存在的問(wèn)題

回路電阻測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中可能存在的問(wèn)題

 大部分回路電阻測(cè)試儀（也稱(chēng)為接觸電阻檢測(cè)儀）原理是采用典型的四線(xiàn)制測(cè)量法，由高頻開(kāi)關(guān)電源提供大于100A的測(cè)試電流，按下測(cè)量鍵時(shí)，高頻開(kāi)關(guān)電源輸出大于100A以上的測(cè)試電流，同時(shí)采樣電路開(kāi)始采樣，取得的信號(hào)經(jīng)放大器放大，由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后，再經(jīng)微處理器對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理，后送顯示器顯示出此次測(cè)量的電流和電阻值，并可以在當(dāng)電流測(cè)試回路出現(xiàn)斷線(xiàn)或接觸不佳時(shí)，儀器會(huì)根據(jù)電流分流器上的電壓判斷出電流回路接觸不佳或開(kāi)路，在實(shí)際試驗(yàn)過(guò)程中也會(huì)遇到一些問(wèn)題，下面總結(jié)回路電阻測(cè)試儀現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試中可能存在的問(wèn)題有哪些。

現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試可能存在的問(wèn)題：當(dāng)回路電阻測(cè)試儀測(cè)試儀電壓接線(xiàn)回路出現(xiàn)接觸不佳或開(kāi)路時(shí)，回路電阻測(cè)試儀還會(huì)顯示一個(gè)數(shù)值，此時(shí)會(huì)出現(xiàn)以下幾種情況：

（1）電壓回路開(kāi)路，測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒(méi)有強(qiáng)電場(chǎng)干擾，這種情況下，由于放大器輸入的差模電壓基本為0，故儀器顯示的測(cè)試數(shù)值接近為0。如果測(cè)試人員有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，可以判斷出是儀器電壓回路測(cè)試線(xiàn)異常，將儀器電壓回路測(cè)試線(xiàn)異常排除后，可以得出終正確測(cè)試結(jié)果；

（2）電壓回路接觸不佳，大多數(shù)情況下斷路器的接線(xiàn)端子在長(zhǎng)期運(yùn)行后端子排外表面會(huì)產(chǎn)生氧化膜或油膜。當(dāng)回路電阻測(cè)試儀的電壓測(cè)試鉗夾接到這樣的端子排上時(shí)就可能產(chǎn)生接觸不佳，既電壓測(cè)試線(xiàn)鉗夾本身也要產(chǎn)生一定的接觸電阻，該接觸電阻值達(dá)到與電壓采樣回路的內(nèi)阻值相當(dāng)時(shí)，將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響。

（3）電壓回路開(kāi)路或接觸不佳（開(kāi)路時(shí)可視接觸電阻R1無(wú)窮大），測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)的電磁干擾。如母線(xiàn)帶電，此時(shí)帶電母線(xiàn)通過(guò)以空氣為介質(zhì)的電容，干擾測(cè)試儀的兩條電壓測(cè)試線(xiàn)，由于干擾的作用使回路測(cè)試儀電壓采集線(xiàn)兩端出現(xiàn)差模電壓。